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Buffolo, Matteo (2018) Reliability of III-V laser diodes and LEDs for lighting and telecommunication applications. [Tesi di dottorato]

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Tesi non accessible fino a 31 Ottobre 2020 per motivi correlati alla proprietà intellettuale.
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Abstract (inglese)

The research in optoelectronics has recently shown impressive advancements, thanks to the development of disruptive technologies, such as Gallium Nitride LEDs and lasers - that are enabling novel lighting devices - and Silicon photonics - that will change the paradigm in broadband data transmission. Industrial laboratories and academic researchers are working towards the improvement of device performance and reliability. This goal is complicated by the complex nature of optoelectronic devices and systems: a deep knowledge on material properties, device characteristics and system optimization is needed to identify the physical mechanisms that limit the lifetime of the devices, and to address possible solutions. The aim of this thesis is to report on a detailed study of the physical factors that limit the performance and reliability of innovative optoelectronic technologies based on nitrides and arsenides. The investigation was conducted by means of purposely planned Accelerated Life Test (ALT) experiments and short-term stress tests on selected state-of-the-art devices, which let us identify the main physical processes responsible for the long-term degradation of the devices, and pinpointed the weaknesses of modern LEDs when temporary operated outside their Safe Operating Area (SOA) as a consequence of Electrical Over-Stress (EOS) events.
With regard to Gallium Nitride (GaN)-based white and visible monochromatic LEDs, we found that under constant near-breakdown reverse bias the devices exhibit a time-dependent degradation phenomenon, which promotes the increase of the leakage current of the device, eventually leading to its catastrophic failure. The peculiar failure statistics, as well as the electro-luminescence and leakage-current data acquired during stress, could be interpreted by considering that highly-depleted GaN under reverse bias may behave like a partially-leaking dielectric that degrades over time due to a defect percolation process, similar to the dielectric degradation-driven breakdown process affecting Silicon MOS devices.
On the other hand, high forward-current short-term step-stress on high-power LEDs revealed that sustained operation at driving currents above the maximum rating of the devices can rapidly induce failure in correspondence of a major current injection point, dependent on the specific chip structure, as a consequence of the localized power dissipation and temperature reached due to extreme current crowding effects and to the degradation of the conductivity of extended device regions.
A clear dependence of the failure mode on the chip structure and device layout could also be found during the investigation on the effects of single short EOS events of increasing amplitude on high-power white LEDs. The experimental data helped identifying the best LED design to be employed in an electrically critical environment, also showing that EOS-related reliability issues tend to arise more from extrinsic elements of the LED system rather than from the semiconductor chip.
Unlike High-Brightness (HB) state-of-the-art LEDs, whose main reliability concern is represented by EOS events, cost-effective mid-power LEDs for lighting applications were found to suffer from gradual degradation processes impacting in the long term on both the electrical an optical characteristics of the device. Moreover, the results of the ALTs highlighted the role of the plastic package in the degradation of the optical properties of the emitted light.
The long-term reliability of mid-power LEDs was further investigated at system level by performing a lifetime analysis of commercial LED bulbs employing these devices as primary light sources. The increased complexity of the system under stress negatively impacted on the stability over time of the luminous performances of the luminaries, which was severely affected by the degradation of extrinsic elements like the diffusing dome or the current driver.
In Part II of this work, our system-level analysis continued with an extensive investigation on the reliability of blue-emitting phosphors for near-UV laser excitation, as part of a research project performed in collaboration with the New Energy and Industrial Technology Development Organization (NEDO), Japan. By means of a series of pure thermal stress experiments and stress under high levels of optical excitation, we have been able to identify the physical process responsible for the degradation of the phosphors under extreme and more conservative operating conditions. In particular, while the phosphors demonstrated good stability during pure thermal treatment in air up to 300 °C, for temperatures equal to or greater than 450 °C the material exhibited a time-dependent drop in the photo-luminescence, which was attributed to the thermally-induced autoionization of the Eu2+ optically active centers. By means of different material characterization techniques, evidence of this degradation process was also found on samples stressed under moderate 3 W/mm2 – 405 nm optical excitation. This indicated that the optically (and thermally) induced ionization of the optically-active species is the most critical degradation process for this family of phosphorescent material.
The operating limits of an improved second generation luminescent material were also investigated by means of short term stress under 405 nm optical excitation. The experimental data showed that, for a given deposition condition, a threshold excitation intensity for continuous pumping exists. Above this threshold, decay of the steady-state photo-luminescence performances and degradation of the material were found to take place, which suggested that the material was being operated in an unuseful excitation regime, mainly limited by the thermal management capabilities of the carrier substrate employed for our experimental purposes rather than from intrinsic properties of the phosphor.
Part III of this thesis is devoted to the analysis of the degradation processes of heterogeneous III-V/Silicon infrared (IR) laser diodes designed for integrated telecommunications and interconnects. By submitting the devices to a series of constant current stress tests, a gradual degradation of the main device parameters was observed. In particular, in every stress scenario the devices under test showed (i) an increase in the threshold current, (ii) a decrease in the turn-on voltage, and (iii) an increase in the apparent carrier concentration within the space charge region. The variation of the electrical parameters was found to be significantly correlated to the optical degradation for long stress times; the results support the hypothesis that degradation originates from an increase in the non-radiative recombination rate, possibly due to the diffusion of defects towards the active region of the devices.
In order to further investigate the physical origin of the diffusing defects, capacitance Deep-Level Transient Spectroscopy (C-DLTS) analysis was performed. The results indicate the presence of several deep levels, with a main trap located around 0.43 eV above the valence band energy. This trap was found to be compatible with an interface defect characteristic of the quaternary material employed to grow the active region of the device.

Abstract (italiano)

L'ultimo decennio di ricerca nell'ambito dei dispositivi optoelettronici ha contribuito allo sviluppo e alla successiva introduzione sul mercato di rivoluzionarie tecnologie, sia in ambito illuminotecnico, grazie agli innovativi sistemi di illuminazione basati su LED e laser in Nitruro di Gallio, che in ambito telecomunicazioni, dove la Silicon photonics promette di stravolgere l'odierno approccio alla trasmissione a larga banda. Innumerevoli laboratori di ricerca universitari e privati concorrono nell'incrementare le performance e l'affidabilità dei dispositivi. Tale obbiettivo, tuttavia, è ostacolato dalla complessa natura dei dispositivi optoelettronici e, ancor più, dei sistemi su di essi basati. Una conoscenza approfondita dei materiali, delle proprietà dei dispositivi e dell'ottimizzazione a livello di sistema risultano essere indispensabili per l'identificazione dei meccanismi fisici che limitano il tempo di vita utile dei dispositivi, e per lo sviluppo di possibili soluzioni. Scopo di questa tesi è descrive i risultati di un'estesa analisi finalizzata ad identificare i processi fisici che limitano l'affidabilità e le prestazioni degli innovativi sistemi optoelettronici basati su semiconduttori III-V. Per tale scopo sono stati realizzati specifici esperimenti di degrado accelerato e stress a breve termine su dispositivi allo stato dell'arte, che hanno permesso di individuare i processi fisici responsabili del degrado, graduale o catastrofico, cui possono essere soggetti i moderni dispositivi optoelettronici durante la propria vita operativa.
Nello specifico, le analisi condotte su LED ad emissione nel visibile basati su Nitruro di Gallio (GaN) hanno innanzitutto rivelato che la prolungata polarizzazione del dispositivo con tensioni inverse vicine al valore critico di breakdown è accompagnata dall'instaurarsi di un processo di degrado tempo-dipendente che induce l'aumento della corrente di leakage del LED, portandolo eventualmente alla failure catastrofica. La peculiare distribuzione statistica del tempo di failure, unita all'andamento temporale di corrente e segnale di elettro-luminescenza durante lo stress in inversa, sono stati interpretati supponendo che il Nitruro di Gallio, portato in svuotamento spinto dalle elevate tensioni inverse, possa comportarsi come un dielettrico con perdite che degrada nel tempo a causa della percolazione di difetti, con un processo del tutto simile al breakdown tempo-dipendente del dielettrico presente nei MOS in Silicio.
Lo studio sugli effetti a breve termine di elevate correnti di polarizzazione su LED in GaN ad alta potenza ha invece evidenziato una localizzazione della failure dei dispositivi in prossimità dei principali punti di iniezione di corrente, specificatamente associabili alla particolare struttura del dispositivo in analisi. Tale tipologia di stress si è inoltre rivelata altamente dannosa anche per la struttura epitassiale del dispositivo, che, a causa delle elevate temperature e densità di corrente in gioco, ha mostrato incrementi di resistività localizzati.
Una più marcata dipendenza delle modalità e delle condizioni di failure dalla struttura e dal layout superficiale è emersa dall'analisi degli effetti di eventi di overstress di breve durata su LED bianchi ad alta potenza. I risultati sperimentali hanno portato all'identificazione della tipologia di LED più adeguata da adottare in ambienti soggetti a disturbi elettrici, mostrando inoltre come le problematiche relative ad eventi di overstress elettrico siano determinate più dalle debolezze di elementi estrinseci del LED che dal chip di semiconduttore.
L'attività di ricerca ha poi evidenziato come per LED bianchi a media potenza in condizioni operative limite i processi di degrado graduale delle caratteristiche ottiche ed elettriche del dispositivo, ed in particolar modo relativi al package plastico, possano risultare deleteri per l'affidabilità a lungo termine della sorgente allo stato solido.
L'analisi affidabilistica su tale tipologia di LED è stata poi estesa a livello di sistema, andando ad investigare i meccanismi di degrado che interessano le comuni lampadine a bulbo basate per l'appunto su LED bianchi a media potenza. La maggiore complessità del sistema illuminante sotto stress ha impattato negativamente sulle performance a lungo termine del bulbo, la cui affidabilità è risultata essere per lo più limitata da elementi estrinseci al LED, quali la cupola diffusiva oppure il driver di corrente.
Nella seconda parte di questa tesi sono state analizzate le proprietà affidabilistiche di uno di questi elementi estrinseci: i fosfori. In collaborazione con l'organizzazione per lo sviluppo delle nuove energie e delle tecnologie industriali del Giappone (NEDO), è stata condotta un'estesa ricerca sull'affidabilità di fosfori ad emissione nel blu per eccitazione nel vicino UV tramite sorgenti a stato solido, in particolare laser. Attraverso una serie di stress termici e/o sotto fascio ottico ad elevate intensità, è stato possibile identificare il principale meccanismo fisico responsabile del degrado delle performance di fotoluminescenza del materiale fosforescente in esame. Nello specifico, correlando quest'ultimo fenomeno con le variazioni delle proprietà chimico-fisiche del materiale, è stato possibile identificare nell'autoionizzazione otticamente e/o termicamente indotta dei centri otticamente attivi di Eu2+ la principale causa di degrado del fosforo.
La stress ottico a breve termine su pigmento luminescente di seconda generazione ha poi permesso di identificare un valore limite di intensità per il pompaggio ottico continuo. Oltre tale soglia, le performance del materiale luminescente calano per effetto congiunto della perdita di efficienza dovuta alle alte temperature di esercizio e al degrado non reversibile del materiale stesso.
Nella terza parte di questa tesi vengono analizzati i meccanismi di degrado di diodi laser IR ibridi basati su semiconduttori III-V e Silicio progettati per sistemi di telecomunicazione e di interconnessione integrati. Esperimenti di degrado accelerato condotti a corrente costante hanno permesso l'identificazione di diversi processi di degrado graduale, tra i quali: (i) l'aumento della corrente di soglia, (ii) la decrescita della tensione di turn-on del diodo (iii) e l'incremento della concentrazione di carica apparente in prossimità della regione attiva. Sulla base della correlazione tra tali processi, è stata formulata l'ipotesi secondo la quale l'origine del degrado ottico del dispositivo risieda nell'aumento del rate di ricombinazione non radiativa, possibilmente dovuto alla diffusione di difetti verso la regione attiva.
Al fine di investigare l'origine della specie diffondente sono state impiegate tecniche di analisi spettroscopica che hanno permesso l'identificazione di diversi livelli trappola all'interno del dispositivo, il principale dei quali, localizzato 0.43 eV al di sopra della banda di valenza, è risultato essere compatibile con un difetto d'interfaccia caratteristico del materiale semiconduttore utilizzato per la crescita della regione attiva dei dispositivi in esame.

Tipo di EPrint:Tesi di dottorato
Relatore:Meneghini, Matteo
Dottorato (corsi e scuole):Ciclo 30 > Corsi 30 > INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE
Data di deposito della tesi:14 Gennaio 2018
Anno di Pubblicazione:14 Gennaio 2018
Parole chiave (italiano / inglese):reliability, degradation, LED, III-V, laser-diode
Settori scientifico-disciplinari MIUR:Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 Elettronica
Struttura di riferimento:Dipartimenti > Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione
Codice ID:10822
Depositato il:09 Nov 2018 10:42
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